[2] 전자 빔이 시료를 스캔하는 것을 관측함!!

[2] 전자 빔이 시료를 스캔하는 것을 관측함!!

형광 물질로 인한 시료대 위의 초록색 점이 왔다 갔다 하는 것으로 스캔이 되는 것을 확인 할 수 있었다.

  

위 두 사진은 낮은 배율일 때 스캔 범위로 아래 두 사진 보다 더 넓게 왔다 갔다 하는 것을 볼 수 있다.

아래 두 사진은 높은 배율일 때 스캔 범위이다. X축 Y축 모두 스캔하여 좌우 뿐만 아니라 상하로도 이동한 것을 확인할 수 있다.

  

다음 영상은 스캔을 테스트 하는 과정을 찍은 것이다. 코일의 X축과 Y축의 최대 피크 전류에 따라 스캔 배율이 달라지는 것을 확인 할 수 있다.

영상을 보면 알 수 있는 점은 역시 전자총- 렌즈- 스캔 코일의 중심 축(얼라인)을 맞추는 것은 상당히 중요하며, 어렵다는 사실이다.

우리 빛돌 팀은 앞의 선례가 없이 최초로 영상을 본 팀이기 때문에 중심축을 맟추는 것이 제일 중요한 일임을 처음에 알지 못했다...

전자현미경을 위한 모든 파트를 만들고 나서, 이미지를 보기위해 계속 테스트 할 때 가장 시간이 많이 걸리는 부분이 중심축(얼라인)을 맞추는 것 이었다.

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